• image of Специальность Логика>SNJ54BCT8374AFK
  • image of Специальность Логика>SNJ54BCT8374AFK
SNJ54BCT8374AFK
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
-
Трубка
1
image of Специальность Логика>SNJ54BCT8374AFK
image of Специальность Логика>SNJ54BCT8374AFK
SNJ54BCT8374AFK
SNJ54BCT8374AFK
Специальность Логика
Texas Instruments
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
-
Трубка
0
1
Продукты параметры
PDF(1)
ТИПОПИСАНИЕ
ПроизводительTexas Instruments
Ряд54BCT
УпаковкаТрубка
Статус продуктаACTIVE
Пакет/кейс28-CLCC
Тип монтажаSurface Mount
Количество битов8
Тип логикиScan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Рабочая Температура-55°C ~ 125°C
Напряжение питания4.5V ~ 5.5V
Пакет устройств поставщика28-LCCC (11.43x11.43)
captcha
0
0.548006s